CAKE1104 型多道γ谱仪实验系统
CAKE1104 多道 y谱仪实验系统，可以测量 v 线或 X 射线谱被测得的 Y、X 射线以能谱的形式在计算机上显示出来，通过专门的谱分析软件进行分析。 本实验系统采用高度集成的数字化谱仪，技术先进成熟，性能稳定，使用 USB 接口连接电脑实现高压和放大倍数的调节，采集并分析能谱
产品详情
技术参数
● 能量分辨率：
≤7.5%(137Cs，Nal (TI) 探测器)
≤3.5%(137Cs，LaBr3 (Ce) 探测器)
● 积分非线性：≤±0.1%
● 微分非线性：≤±1%
● 零点漂移：<50ppm/℃
● 增益漂移：<150ppm/℃
● 探测器电压： 0~+1200V（通过软件调节）
● 成形时间：0.75μs~2μs（通过软件调节）
● 多 道：1024 道
● 增 益：粗调：1、3、9，细调：0.4~1.2